SSD (Solid-State Drives) 기술 개발과 제품을 공급하는 STEC는 낸드 플래시의 내구성을 개선할 수 있는 CellCare 기술을 발표했다.
CellCare 기술은 24nm MLC 낸드 플래시 (NAND Flash) 메모리의 프로그램/ 삭제 사이클을 기존 3,000에서 40,000으로 13배 이상 늘려 내구성을 크게 개선 가능할 것이라고 xbitlabs는 전했다.
STEC의 CellCare 기술은 4세대 ASIC 기반 SSD 컨트롤러와 조합할 것으로 알려졌으며, STEC 엔지니어들은 JEDEC 표준 테스트와 프로그램/ 삭제 (Program/erase) 내구성과 데이터 저하없이 스트레스 테스트, 스트레스 테스트 내부 서킷의 품질과 SSD 요구 및 내구성 테스트를 진행할 것으로 알려졌다.
CellCare 기술은 하드웨어와 펌웨어가 조합되어 MLC 플래시 성능과 내구성을 개선할 것으로 예상되며, 주요 내구성 확장에 대한 특허 기술은 다이 당 플래시 파라미터 트래킹 및 컨트롤러 Wear 낭비를 줄이며 컨트롤러 성능 개선, 플래시 수명 관리, 읽기와 쓰기 레이턴시 낮추며, 성능 향상, 디지털 시그널 프로세싱을 통해 진보된 에러 정정과 향상된 데이터 신뢰성과 최소 재읽기 구현 등이 포함된다.
STEC을 통해 개발된 이 기술은 기업용급 SSD에 적용되며, 저비용의 cMLC 낸드 칩에 적용 가능하다. 5년 동안 저장장치 드라이브에 매일 10회 풀용량의 랜덤쓰기 실행, 데이터 기억은 40도에서 3달 동안 성능 저하 없이 구현 가능하며, 대략 7.3 PB (Petabytes)의 데이터를 400GB SSD에 수명이 다할 때까지 쓰기를 실행하는 것과 같은 수준의 내구성을 제공한다고 전했다.
CellCare 기술은 STEC의 MLC 낸드 기반 기업용 SSD 솔루션에 내장될 것으로 알려졌으며, PCIe SSD ZeusIOPS SAS SSD, MACH16 SATA SSD 등에 적용될 것으로 알려졌다.
STEC의 24nm cMLC 낸드 플래시 기반 SSD는 현재 개발과 테스트를 진행 중이며, 올해 말 제품 등장이 예상된다고 전했다. |
